X-Strata920表面鍍層測厚儀
是一款簡潔、堅固和(hé)可靠的質量控制XRF台式熒光系統，用(yòng)于簡便、快(kuài)速的鍍層厚度測試和(hé)材料分析。
功能(néng)特性：
成本低(dī)、快(kuài)速、非破壞的EDXRF分析
可完成至多4層鍍層（另加底材）和(hé)25個元素的鍍層厚度測試，自(zì)動修正X射線重疊譜線
卓越的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上(shàng)從(cóng)钛（原子序數22号）到(dào)鈾（92号）各元素
測厚行業35年知(zhī)識和(hé)經驗的積澱
元素範圍 Ti22 to U92
鍍層和(hé)元素數量 4 層鍍層 + 底材可同時(shí)分析至多25種元素
X-ray激發 50 W (50kV, 1mA) 微聚焦型鎢靶X射線管
X-ray探測器 封氣（氙氣）正比計(jì)數器
準直器 單準直器或多準直器（最多6個） ，圓形、正方形和(hé)矩形可選
二次濾波器 可配置至多3個濾波器（V、Co和(hé)Ni）用(yòng)于重疊X射線波譜校正
數字信号處理(lǐ)器 4096多通道(dào)數字分析器 自(zì)動信号處理(lǐ)，帶死時(shí)間修正及防脈沖累積功能(néng)
軟件 SmartLink
FP語言：英語、中文(wén)（簡體和(hé)繁體）、法語、德語、西班牙語、日語、韓語、
意大(dà)利語、捷克語和(hé)俄語
計(jì)算(suàn)機 CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz
硬盤： 500Gb，内存：2Gb
DVDRW
操作(zuò)系統：Microsoft WindowsTM
注：由于計(jì)算(suàn)機系統更新快(kuài)速，實際配置等同或優于上(shàng)述規格
電源 85~130 或 215~265 伏特，頻率範圍47Hz到(dào)63Hz
工(gōng)作(zuò)環境 10°C (50°F) 至 40°C (104°F)，相對(duì)濕度98%，無冷凝
可選配置 标準樣品台（最大(dà)樣品高(gāo)度 33mm / 1.3”）
加深式樣品台（最大(dà)樣品高(gāo)度 160mm / 6.3”）
XY 程控樣品台（樣品台移動行程：178mm x 178mm / 7” x 7”）
各樣品台Z向移動行程：43mm (1.7”)
均爲開(kāi)槽式樣品台
尺寸（寬 x 長 x 高(gāo)） 标準樣品台：407 x 770 x 305 mm (16 x 30.3 x 12")
加深式樣品台：407 x 770 x 400 mm (16 x 30.3 x 15.7")
XY 程控樣品台：610 x 1037 x 375 mm (24 x 40.8 x 14.8“)
注：以上(shàng)尺寸均不包含計(jì)算(suàn)機和(hé)顯示器
重量 97kg（不包含計(jì)算(suàn)機和(hé)顯示器）
應用(yòng)于常規金(jīn)屬處理(lǐ)、電子元器件制造和(hé)金(jīn)屬測定（如珠寶鑒定）等行業，完成單層或多層厚度測量。
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